Применение методов точной диагностики дефектов для повышения качества и надежности полупроводниковых изделий

Главная страница ⇒ Направление деятельности ⇒ Депозитарий электронных изданий ⇒ Каталог

Описание электронного издания

Основные сведения

Автор(ы)	Левина Т. А. (Татьяна Анатольевна), Клочков Я. М. (Яков Михайлович), Клочков А. Я. (Анатолий Яковлевич) и др.
Основное заглавие	Применение методов точной диагностики дефектов для повышения качества и надежности полупроводниковых изделий
Сведения, относящиеся к заглавию	монография : текстовое электронное издание
Вид ресурса	Текстовое (символьное) электронное издание
Тип носителя	1 DVD-R
Место издания	г. Москва
Издатель	ФГАОУ ВО "Московский политехнический университет" (Московский Политех)
Год издания	2025
Системные требования	PC-совместимый процессор 1,3 ГГц и выше ; 256 Мб RAM ; необходимо на винчестере: 350 Мб ; Windows, Mac OS ; разрешение экрана 1024х768 ; Adobe Acrobat Reader 9 и выше
№ госрегистрации	0322600514
Дата регистрации	25.06.2026

Производитель электронного издания

Наименование	ФГАОУ ВО "Московский политехнический университет" (Московский Политех)
Адрес	107023; Москва, г. Москва, ул. Большая Семеновская, д. 38
Сайт	http://mospolytech.ru/

© Федеральная служба по надзору в сфере связи, информационных технологий и массовых коммуникаций " Роскомнадзор"
© Федеральное государственное бюджетное учреждение Научно-технический центр «Информрегистр», 2007-2014
107553, Москва, ул. Большая Черкизовская, дом 21, стр. 1. Схема проезда, тел.: (499) 160-93-48

Разделы каталога

Основные разделы

Информационные ресурсы

Личный кабинет