Депозитарий электронных изданий

| Общие сведения | Документы | Регистрация | Платные услуги | Каталог |

Описание электронного издания

Макетирование и отладка интеллектуальных измерительных устройств

Основные сведения
Канаев С. А. (Сергей Анатольевич), Москаленко О. В. (Оксана Владимировна), Аблаева А. Е. (Анна Евгеньевна)
Макетирование и отладка интеллектуальных измерительных устройств
учебно-методическое пособие
Текстовое (символьное) электронное издание
1 CD-R
г. Москва
Издатель ФГБОУ ВО "МИРЭА - Российский технологический университет"
2023
не менее 128 Мб ; не менее 30 Мб ; Windows ; программа для чтения pdf-файлов (Adobe Reader)
0322402016
01.10.2024

Производитель электронного издания
ФГБОУ ВО "МИРЭА - Российский технологический университет"
119454; Москва, г. Москва, пр-т Вернадского, д. 78
http://mirea.ru